Профилометр что это такое: Профилометры

alexxlab | 18.05.2023 | 0 | Разное

Портативный профилометр Accretech Handysurf+



Приборы для измерения параметров шероховатости – профилометры-профилографы – предназначены для измерения высокочастотной составляющей текстуры поверхности изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию (образующие цилиндрических поверхностей; отверстия; плоские поверхности) или дугу окружности.  Применяются в цехах и лабораториях промышленных предприятий различных отраслей машиностроения, научно-исследовательских институтов, метрологических центров. Шероховатость поверхности является одной из основных геометрических характеристик качества поверхности деталей и оказывает влияние на эксплуатационные показатели. В условиях эксплуатации машины или прибора, внешним воздействиям, в первую очередь, подвергаются поверхности их деталей.

Основные характеристики

Диапазон измерений по X 4 мм и 16 мм (в зависимости от модели) 

Диапазон измерений по Z – 370 мкм (-210 – +160 мкм)
Максимально допустимая погрешность +/-5%
Скорость измерения до 1 мм / с (для моделей +35 и +40 составляет 0,6 мм/с (Стандарт) 0,5 ; 0,75 ; 1,0 мм/с (Расширенный) для модели +45 составляет 0,6 mm/s
Отсечка шага λc: 0,08; 0,25; 0,8; 2,5 мм
Параметры кривой профиля: Pt, Rmax, Rz, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, K, tp
Параметры кривой шероховатости: Ra, Rq, Rz, Rv, Rc, Rt, RSm, RΔq, Rsk, Rku, Rmr(c), Rmr, Rδc, Rz94, R3z, RΔa, Ry, Sm, S, tp, PC, RPc JIS, RPc ISO, RPc EN, Pc, PPI, Rp, Rmax, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, Rk, Vo, K, A1, A2, Rpm, Δa, Δq, Htp
Стандарты вычислений соответствуют JIS2013/2001, JIS1994, JIS1982, ISO1997/2009, ISO13565, DIN1990, ASME2002/2009, ASME1995, CNOMO
Блок индикации и управления с 2. 4 дюймовым цветным LCD дисплеем
Простое управление и удобное программное обеспечение

Разъём USB (подзарядка профилометра и передача данных на ПК)
Удлинитель для удалённого использования
Полная зарядка позволяет проводить около 1000 измерений
Опционально подключается внешний принтер (ширина бумаги для термопечати: 58 мм (ширина записи: 48 мм)
Страна производства: Япония

Конкурентные преимущества

  • Прямолинейность движения: 0,5 мкм/16 мм – Hanysurf+ – это единственный портативный профилометр с нормируемой прямолинейностью перемещения датчика

  • Разрешение: 0,0007 мкм во всём диапазоне, чувствительность индуктивной системы на уровне безопорных приборов

  • Прочная контактная группа датчика (трёхштыревое подключение привода с датчиком исключает деформацию при установке на мотопривод)

  • Диапазон измерений по оси Z составляет 370 мкм – самый большой в своём классе

  • Яркий цветной дисплей с удобным и простым управлением

  • Профилометр поставляется в удобном пластиковом кейсе (фото ниже)

  • Двойная мера шероховатости в комплекте (калибровка профилометра и проверка его метрологических характеристик) с сертификатом калибровки производителя

Обзор комплектации

  Стандартный комплект поставки (общий вид):
  прочный пластиковый кейс, специальные места для всех комплектующих,
  три сертификата от производителя, двойная мера шероховатости.

   Блок управления и индикации:
   цветной высококонтрастный дисплей,
   эргономичное управление, прочный корпус.

   Мотопривод и датчик:
   прочная контактная группа, деформировать которую невозможно
   при установке в мотопривод, самый большой диапазон измерений по оси Z.   

   Контактная группа датчика.

   Двойной образец шероховатости:
   одна мера для калибровки,
   вторая для проверки метрологических характеристик.

   Блок питания с USB-кабелем.

   CD с программным обеспечением.

   Кабель соединительный.

Инструкция на прибор полная

Инструкция краткая

Сертификат приёмки

   Inspection-handysurf.pdf

Сертификат калибровки

   Calibration-handysurf.pdf

Сертификат калибровки
на двойной образец
шероховатости

   Calibration-spec. pdf

Модификации профилометров

35 (стандартный тип)

Работает с различными видами ориентации,
включая горизонтальное, наклонное, вертикальное и перевёрнутое.

40 (отводной тип)

Уменьшает повреждение измерительного наконечника,
производит подъём наконечника при ожидании измерения или после окончания измерения.

Его можно использовать как детектор, включаемый в автоматизированные системы.

45 (поперечный тип)

Движение наконечника также производится в сторону, в поперечном направлении.
Узкие зоны, такие например, как шейки коленвалов, которые раньше было трудно измерить,
 теперь доступны для контроля шероховатости.

Несколько функций анализа

       Графическое представление результатов измерений позволяет проводить их оценку на месте, используя значения основных параметров и формой волны. Кроме того, несмотря на то, что это портативное оборудование, оно способно предоставлять пользователю много вариантов анализа, включая анализы BAC, ADC, пикового отсчёта и мотивов. Установив условия в предварительных настройках, оценки по результатам измерений OK (хорошо – в допуске) / NG (не хорошо – не в допуске) можно выполнить автоматически.



Дополнительные комплектующие

  №  

 Артикул

Описание

1

   E-DT-SM11B  

Датчик для отверстий диаметром более 5 мм, 5 мкм радиус

2

E-DT-SM12A

Датчик для отверстий диаметром более 2,4 мм, 5 мкм радиус

3

E-DT-SM13A

Датчик для проточек глубиной не более 7 мм, 5 мкм радиус

4

E-DT-SM14A

Датчик со стандартным щупом, 10 мкм радиус

5

E-DT-SM15B

Датчик для отверстий диаметром более 5 мм, 10 мкм радиус

6

E-DT-SM16A

Датчик для отверстий диаметром более 2,4 мм, 10 мкм радиус

7

E-DT-SM17A

Датчик для проточек глубиной не более 7 мм, 10 мкм радиус

8

E-DT-SM50B

Датчик для отверстий диаметром более 5 мм, 2 мкм радиус

9

E-DT-SM51B

Датчик для отверстий диаметром более 2,4 мм, 2 мкм радиус

10

E-DT-SM52B

Датчик для проточек глубиной не более 7 мм, 2 мкм радиус

11

E-ST-MAC

Магнитная стойка с системой крепления

12

E-RC-S31A

Портативный принтер

13

E-SC-S255A

Удлинительный кабель привода 1,8 метра 

14

E-WJ-S85A

   Наконечник для позиционирования на цилиндрических поверхностях   

15

E-WJ-S88A

Наконечник для позиционирования на плоских поверхностях

16

DM57506

Адаптер для глубоких отверстий 50 мм

17

DM57507

Адаптер для боковых измерений

18

E-WJ-S86A

Адаптер для измерения отверстий


Профилометр SURFIEW Master – ЭМТИОН

Главная Каталог Профилометры и Эллипсометры Профилометр SURFIEW Master

Профилометр SURFIEW Master

GLTech

Диапазон по Z 300 мкм (10 мм опция). Автоматическое управление. Промышленное решение

Описание Профилометр SURFIEW Master

    Сканирующий интерферометр белого света SURFIEW Master – это флагманское решение в линейке приборов GLTech. Устройство используется для бесконтактного измерения изменений высоты поверхности с большой точностью в производстве и на R&D предприятиях (микроэлектроника, производство электроники, оптики, промышленность, точная механообработка и др.). Приборы линейки SURFIEW основаны на принципе оптической профилометрии и позволяют производить полноценную оценку текстуры поверхности, включая замер шероховатости образца, оценку кривизны поверхности, толщины пленок и многое другое. Оптическая профилометрия, основанная на отражении светового сигнала от поверхности, позволяет измерять топографию поверхности, достигая субнанометрового разрешения по вертикали (z ось).

 

Принцип работы профилометров SURFVIEW

 

     Оптические профилометры линейки SURFIEW позволяют измерить поверхность образца в диапазонах от нескольких десятков мкм² до нескольких мм². Измеряемый участок: от 1 нм до 10 мм, вертикальное z разрешение – вплоть до 0.1 нм. Оборудование относится к приборам неразрушающего контроля и позволяет производить измерения образца без модификации поверхности (например, в сравнении с АСМ и РЭМ методиками, где поверхность образца повреждается в результате сканирования или при предварительной пробоподготовке), причём z разрешение профилометров SURFIEW не зависит от увеличения объектива, как например, в конфокальных методах. Прибор позволяет исследовать такие материалы, как полимеры, биологические образцы, порошки, металлы, стекла и многое другое.

 

Особенности:

  • Быстрый бесконтактный неразрушающий замер 2D профиля или 3D топографии образца.
  • Измерение шероховатости образца, кривизны поверхности, толщины пленок, анализ дефектов (микротрещины, сколы, царапины) и др.
  • Вертикальное z разрешение вплоть до 0.1 нм (вне зависимости от используемого объектива).
  • Возможность изменения поля зрения за счет использования разных объективов.
  • Высокая повторяемость и воспроизводимость измерений

 

Сферы применения:

  • Микроэлектроника (анализ stud bump структур, контроль после CMP и CVD процессов, замер подложек, MEMS устройств и др.).
  • Производство печатных плат (анализ печатных слоев, подложек, BGA и др.).
  • Производство дисплеев (анализ TFT, LED, OLED слоев,  RGB, квантовых точек и др.).
  • Микрооптика и стекольная индустрия (анализ шероховатости линз, напыления и др.).
  • Механика и механообработка (замер высокоточных деталей, анализ лазерной обработки и др.).
  • Аккумуляторы (анализ полимеров, электродов и др.).
  • Биоприменения (неразрушающий контроль органических образцов).

 

Сравнение методик измерения

Параметр3D профилометры SURFIEWАСМ микроскопСЭМ микроскоп
Z разрешение0. 1 нм0.5 нмТолько двухмерные изображения
Поле сканированияДо 4 мм с сшивкой и до 200 мкм без сшивки100 X 100 мкм1 – 2 мм
Вертикальный диапазон сканирования10 мм10 мкм
Подготовка образцаТребуется покрытие проводимого материала
Среда измеренияВоздухВоздух, жидкостьВакуум

 

    Сканирующие интерферометры SURFIEW основаны на WLI методике (WLI – white light interferometry или SWLI). Прибор работает за счет разложения свет излучателя в оптическом тракте прибора на 2 пучка. Первый пучок падает на образец, и , отражаясь, встречается со вторым пучком, приходящим на опорное зеркало прибора. Лучи интерферируют, разность волн отраженного и опорного пучка приводит к возникновению интерференционных полос, которые анализируются прибором.

     Существуют две основные методики измерения WLI интерферометров: фазосдвигающая интерферометрия (Phase-Shifting Interferometry, PSI) и вертикальная сканирующая интерферометрия (Vertical Scanning Interferometry, VSI). SURFIEW интерферометры на базе PSI методики позволяют достичь z разрешения до 0.1 нм, на базе VSI методики – до 0.5 нм.

  • PSI (Интерферометрия с фазовым сдвигом) основана на анализе интерферограмм — изображений, распределение интенсивности в которых зависит от разности длины оптического пути, проходимого светом в опорном и измерительном плечах интерферометра. Заметное влияние на интенсивность разность оказывает
    только тогда, когда находится в пределах длины когерентности.
    Фазовое сканирование производится, например, перемещением зеркала в опорном плече интерферометра с шагом, составляющим доли длины волны света. При этом для каждой точки изображения можно построить коррелограмму — зависимость интенсивности
    от фазового сдвига.
  • VSI (вертикальная сканирующая интерферометрия) основан на регистрации интерференционных картин в белом свете при перемещении образца по вертикали. Метод позволяет измерять поверхности с большими значениями параметров шероховатости, а также различные дефекты глубиной до двух миллиметров. Положение реперного зеркала в объективах подобрано таким образом, чтобы оптическая разность хода была равна нулю . При этом условии в интерференционной картине возникают максимумы для всех длин воли,и наблюдается абсолютный максимум интенсивности, регистрируемый видеокамерой. Таким образом, если в некоторой точке образца наблюдается абсолютный максимум, она находится в фокусе. При вертикальном сканировании все точки поверхности поочередно проходят через фокус. По последовательности полученных интерференционных картин видеокамера определяет изменения интенсивности света в каждой точке в зависимости от расстояния. Программа вычисляет положение максимума интенсивности для каждой точки матрицы, после чего восстанавливается форма поверхности, основанная на регистрации интерференционных картин в белом свете при перемещении образца по вертикали.

Технические характеристики Surfview Master

 

Вертикальное разрешениеVSI < 0. 5 нм, PSI < 0.1 нм
Горизонтальное разрешение0.03 – 7.2 мкм (в зависимости от увеличения и камеры)
Воспроизводимость измерения высоты≤ 0.1% при 1σ
Скорость сканирования8 – 40 мкм/сек
Метод сканированияПьезопривод, закрытый цикл
Диапазон сканирования≤ 300 мкм (мотор. ≤ 10 мм опция)
ОбъективДо 6 (автоматизированная турель)
Изображающая линзаДо 5 (автоматизированная турель)
Сенсор камеры1/2”, одноцветная (2/3”, 1” – опция)
ПодсветкаБелый LED
Фильтр3 шт. (автоматическая смена)
АвтофокусировкаДа
Программное сшиваниеДа
Отражательная способность образца0.05 – 100%
Максимальный вес образца≤ 20 кг
Диапазон перемещения предметного столика600 × 600 мм, автоматическое перемещение
Диапазон перемещения сканирующей головки100 мм (автоматическое)
Наклон столикаОтсутствует
Размеры предметного столика600 × 600 мм
ВиброизоляцияПассивный тип (вертикальный резонанс 1. 5 Гц)
Общий вес системы1500 кг
Напряжение питания110 В / 220 В (± 10%), 15 А, 50/60 Гц
Программное обеспечениеSurface View / Surface Map (Windows 10)
Комплектация системы·         Оптический 3D профилометр

·         Стол с интегрированной системой пассивной вибророзащиты

·         Управляющий компьютер с монитором 27”

·         Программного обеспечение оператора для управления профилометром на английском языке.

·         Пакет для обработки данных и расчета стандартных параметров (ISO).

 

Опциональные приборы

 

Интерферометрические объективы2.5Х, 5Х, 10Х, 20Х, 50Х, 100Х
Объективы2.5Х, 5Х, 10Х, 20Х, 50Х, 100Х
Изображающие линзы0. 55Х, 0.75Х, 1Х, 1.5Х, 2Х
Предметный столикВращающийся вакуумный столик
Эталонные образцыСтандарт высоты
Стандарт ширины
Стандарт шероховатости
УправлениеМногопозиционный джойстик с программируемыми кнопками
ИБПOn-line тип, 10000 ВА, питание ПК и профилометра

Может быть полезно:




Посмотреть все методики




Посмотреть все статьи

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы

Согласие на обработку персональных данных

Профилометрия — нанотехнологические инструменты

Профилометрия — это метод, используемый для извлечения топографических данных с поверхности. Это может быть одна точка, линейное сканирование или даже полное трехмерное сканирование. Целью профилометрии является получение морфологии поверхности, высоты ступеней и шероховатости поверхности. Это можно сделать с помощью физического зонда или с помощью света.

Метрология – наука об измерениях. Насколько груб образец? Насколько высоки характеристики? Какая часть области имеет пустоты или частицы? Какова плотность дефектов? Ответы на эти вопросы часто определяются количественно с помощью профилометрии.

Как работает профилометр

Все профилометры состоят как минимум из двух частей – детектора и предметного столика. Детектор — это то, что определяет, где находятся точки на образце, а предметный столик — это то, что удерживает образец. В некоторых системах предметный столик перемещается, позволяя проводить измерения, в других перемещается детектор, а в некоторых перемещаются и то, и другое.

Существует два типа профилометров: щуповые и оптические. Профилометры со стилусом используют датчик для обнаружения поверхности, физически перемещая датчик вдоль поверхности, чтобы определить высоту поверхности. Это делается механически с помощью контура обратной связи, который отслеживает усилие образца, прижимающегося к зонду, когда он сканирует поверхность. Система обратной связи используется для удержания рычага с определенным крутящим моментом на нем, известным как «уставка». Затем изменения в Z-положении держателя руки можно использовать для реконструкции поверхности.

Профилометрия со щупом

Профилометры со щупом используют датчик для обнаружения поверхности, физически перемещая датчик вдоль поверхности для определения высоты поверхности. Это делается механически с помощью контура обратной связи, который отслеживает усилие образца, прижимающегося к зонду, когда он сканирует поверхность. Система обратной связи используется для удержания рычага с определенным крутящим моментом на нем, известным как «уставка». Затем изменения в Z-положении держателя руки можно использовать для реконструкции поверхности.

Профилометрия со щупом требует обратной связи по усилию и физического прикосновения к поверхности, поэтому, несмотря на то, что он чрезвычайно чувствителен и обеспечивает высокое разрешение по оси Z, он чувствителен к мягким поверхностям, и зонд может загрязняться поверхностью. Этот метод также может быть разрушительным для некоторых поверхностей.

Поскольку профилометр со щупом включает физические движения по осям X, Y и Z при сохранении контакта с поверхностью, он работает медленнее, чем бесконтактные методы. Размер и форма наконечника щупа могут влиять на измерения и ограничивать боковое разрешение.

Схема щупового профилометра Схема интерферометрического профилометра

Оптическая профилометрия

Оптическая профилометрия использует свет вместо физического зонда. Это можно сделать несколькими способами. Ключевым компонентом этой техники является направление света таким образом, чтобы он мог обнаруживать поверхность в 3D. Примеры включают оптическую интерференцию, использование конфокальной апертуры, обнаружение фокуса и фазы, а также проецирование рисунка на оптическое изображение.

Конфокальная профилометрия

Схема конфокальной профилометрии.

Конфокальная профилометрия — это оптический метод точечного сканирования, используемый для получения изображения поверхности образца. Он работает с использованием небольшой апертуры, известной как конфокальная апертура. Сильно сфокусированный свет проецируется через апертуру, и только поверхности в фокальной плоскости обеспечат полезный сигнал. Оптика сканируется вверх и вниз над поверхностью, пока не будет обнаружено яркое пятно. Как только наблюдается яркое пятно, прибор вычисляет расстояние до этой точки на поверхности, присваивая ей точку по оси Z. Затем оптика сканирует поверхность в поперечном направлении, сохраняя яркое пятно для реконструкции поверхности.

Конфокальная сетка

Проекция шаблона с определением фокуса

Как правило, программное обеспечение, используемое на оптических приборах, может иметь трудности с определением того, что находится в фокусе, а что нет. Точность оптики может ограничить эффективность разрешения фокальной плоскости.

Используя передовую оптику для проецирования резкого изображения, которое будет в фокусе только на точном расстоянии, программное обеспечение и оптика могут легче и с большей точностью определять, что находится в фокальной плоскости. Это также обеспечивает большую гибкость при измерении прозрачных образцов, поскольку проекция будет сфокусирована только на реальной поверхности.

Этот комбинированный метод несколько сложнее определения фокуса, но обеспечивает более точные измерения и более простое программное определение.

Анализ микропилларов для самоочищающихся поверхностей с помощью оптического профайлера Zeta 3D. Схема и изображения для профилометрии с проекцией паттерна.

Проекция узора

Профилометрия проецирования узора работает путем проецирования известного узора на образец и сравнения того, что проецируется, с тем, что отражает образец. Сравнивая эти два, поверхность образца может быть реконструирована с помощью программного обеспечения.

 

Обнаружение фокуса

Определение фокуса работает так же, как мы видим мир. Инструмент определяет, что находится в фокусе, а что нет, путем поиска резких контрастов. Области с резким контрастом считаются в фокусе, и, зная это фокусное расстояние оптики, можно определить расстояние. Обычно это работает путем сканирования оптики в направлении Z и использования камеры для создания трехмерного объема данных. После того, как данные получены, части, находящиеся не в фокусе, вырезаются, и у вас остается представление о поверхности образца.

Этот метод также может быть выполнен с использованием зум-микроскопа с переменным фокусом для создания объема. Этот метод, как правило, проще, с меньшим разрешением и меньшей стоимостью. Используя обычные объективы микроскопа и прецизионные перемещения по оси Z, можно значительно улучшить разрешение по осям X, Y и Z; разрешение все еще ниже, чем у конфокальных или интерферометрических приборов.

Муха крыло с разными фокальными плоскостями.

Что такое профилометр и для чего он используется?

Профилометр — это узкоспециализированный метеорологический измерительный прибор, который используется для определения шероховатости поверхности. В качестве измерительного прибора профилометр очень точен, поскольку ожидается, что он сможет идентифицировать и количественно определять очень мелкомасштабные поверхностные элементы. Шероховатость поверхности классифицируется по классам в соответствии со стандартом ISO 4287 от «N12» до «N1» (щелкните здесь, чтобы просмотреть диаграммы и другую полезную информацию), и начинается с максимальной разницы высот между микроскопическими склонами, пиками и впадинами в 50 микрометров до 25 нанометров.

Практическая ценность профилометров

Способность определять шероховатость поверхности имеет ключевое значение для инженеров, которые разрабатывают высокоточные системы и хотят прогнозировать их производительность и ожидаемый срок службы. Вот несколько реальных примеров того, как профилометры используются для расширения нашего понимания и оптимизации процессов производства и обработки.

  • Определите контактную жесткость, возникающую между двумя контактирующими телами/поверхностями.
  • Определите напряжение трения, возникающее при контакте двух тел/поверхностей друг с другом.
  • Предсказать риск вибрации в сборках взаимосвязанных деталей.
  • Определить тип механической обработки, используемой для изготовления поверхности, на основе обнаруженных образцов шероховатости.
  • Определите, является ли поверхность смазочного элемента достаточно шероховатой, чтобы удерживать молекулы масла.
  • Прогноз работы компонентов тормозной системы.
  • Измерение толщины пленки или материала покрытия.
  • Определение уровня отражательной способности поверхности.
  • Определение точности и общей производительности производственных единиц FDM или станков с ЧПУ.
  • Прогнозируйте жизненный цикл и определяйте максимальные пределы производительности компонента на основе обнаруженных трещин или неровностей, которые, как известно, ухудшаются при определенных условиях эксплуатации.

Типы профилометров

Профилометр с алмазной иглой

Это оригинальные профилометры, впервые представленные в 1940-х годах, и их принцип работы очень похож на принцип работы проигрывателя пластинок. Зонд, состоящий из наконечника стилуса, удерживается на месте с помощью механизма обратной связи и перемещается вдоль обнаруживаемой поверхности, в то время как рука, соединенная с зондом, выполняет перпендикулярное действие, помогая генерировать форму волны профиля. Поскольку сигнал определяется аналоговым движением алмазного щупа, размер щупа, его радиус, прижимная сила и скорость датчика являются определяющими факторами для его точности и разрешения. Как правило, профилометры с алмазным щупом предпочтительнее для приложений, где требуется определение шероховатости на уровне 10-20 нанометров, и где поверхность недостаточно чистая, поэтому предпочтительны контактные методы, и где отражательная способность и окраска поверхности могут обмануть другие (оптические) профилометры. типы. Недостатком профилометрии с алмазным щупом является то, что ее нельзя использовать на мягких поверхностях из-за образования царапин и что ее проведение требует некоторого времени.

Цифровые голографические микроскопы (временного разрешения)

Как следует из названия, это оптический метод определения шероховатости поверхности с использованием конфокальной хроматической аберрации, лазерной триангуляции, когерентной сканирующей интерферометрии, сканирования структурированным светом и других методов, основанных на по конкретному приложению. Хотя эти профилометры не так точны, как профилометры с алмазным щупом, они отлично подходят для приложений вплоть до масштаба микрометра. Их преимущества заключаются в том, что они очень быстро дают результаты профилометрии, они не контактируют с поверхностью, поэтому зонд не может повредить или поцарапать ее, и, таким образом, они являются единственным способом измерения шероховатости мягких материалов, таких как полимеры, гели и т. д. В дополнение к этому известно, что профилометры с временным разрешением дают одинаковые результаты измерения шероховатости при каждом измерении, поскольку на их работу не влияют пользовательские настройки, такие как силовая обратная связь в щуповом типе, и они не нуждаются в каком-либо калибровка.

Скриншот профилометра ZeGage™ корпорации Zygo.

Профилометр на основе оптоволокна

Профилометр на основе оптоволокна — это тип прибора, в котором зонд обнаружения и анализатор данных детектора находятся далеко друг от друга, но соединены оптоволоконным кабелем. Использование этих кабелей обеспечивает нулевое ухудшение сигнала, поэтому инженер может измерять шероховатость поверхностей, находящихся в местах, недоступных по каким-либо причинам. Примеры применения включают измерения в радиоактивных камерах, криогенных установках, камерах с токсичными газами или узлах, которые не предназначены для обслуживания или технического обслуживания в течение длительного времени (или когда-либо).

Профилометры на рынке

В зависимости от типа профилометра, разрешения цели и требуемой точности измерений цена профилометра колеблется от нескольких сотен долларов до десятков тысяч. Как правило, вы можете найти надежный комплект примерно за 2000 долларов США. Наиболее известные бренды в этой области включают японскую Mitutoyo, которая производит точные измерительные приборы уже более 80 лет, американского производителя метрологических и измерительных систем Mahr, инновационную Rtec, предлагающую богатый ассортимент продукции для измерения профиля, и Фаза II, которая предлагает множество компактных и конкурентоспособных по цене устройств.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *